一种微小试样的疲劳性能测试装置
文献类型：专利
| 作者 | 崔学顺, 曾秋莲, 郭建军, 闵家源, 王中光 and 尚建库 |
| 发表日期 | 2006-11-08 |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利类型 | 实用新型 |
| 权利人 | 中国科学院金属研究所 |
| 中文摘要 | 本实用新型涉及一种疲劳测试技术,具体地说是公开一种微小试样疲 劳性能测试装置。采用通电激磁线圈产生的磁场对微小试样进行力的加载, 具体是：将微小试样一端固定,另一端呈自由状态置于磁场中,通电激磁 线圈,使微小试样附近产生磁场,通过所述磁场对微小试样进行力的加载, 从而测试疲劳性能。采用本实用新型,加载力的大小通过调节电压和频率 来控制,可以小至1mN(0.1g力),甚至更小；实验频率可以任意调节。 与此同时,还可以在微小试样上通直流电流,可以实现对微小试样力、电 的同时加载,可以方便而有效地对微小试样的介观行为进行研究,这时试 样... |
| 公开日期 | 2006-11-08 |
| 语种 | 中文 |
| 专利申请号 | CN2835988 |
| 源URL | [http://210.72.142.130/handle/321006/67607]  |
| 专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 崔学顺, 曾秋莲, 郭建军, 闵家源, 王中光 and 尚建库. 一种微小试样的疲劳性能测试装置. 2006-11-08. |
入库方式： OAI收割
来源：金属研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。