一种小尺度片状样品三点弯曲力学性能测试方法和装置
文献类型：专利
| 作者 | 谭军, 万晔, 张磊, 温井龙 and 姚戈 |
| 发表日期 | 2007-02-28 |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利类型 | 发明专利 |
| 权利人 | 中国科学院金属研究所 |
| 中文摘要 | 本发明属于一种小尺度片状样品三点弯曲力学性能测试的方法和装置。该方 法：将已经预制有微裂纹的表面沉积有薄膜片状样品放置在样品台上,首先采用 力控制方式,使压头与样品的上表面接触,随后调整为测试条件,防止接触瞬间 大载荷作用；将预制有微裂纹的片状样品上的两个电极与电位采集系统相连接, 逐步增加载荷,记录加载过程中最大载荷,在微裂纹开裂瞬间监控电位变化,转 换电位与时间数据为速度与时间关系。该装置由三点弯曲样品台、样品台支撑系 统、冷却系统、加热系统、加载系统、测试系统组成。本发明直接安装小尺度片 状样品在测试装置上,进行片状样品的三点弯曲实... |
| 公开日期 | 2007-02-28 |
| 语种 | 中文 |
| 专利申请号 | CN1920521 |
| 源URL | [http://210.72.142.130/handle/321006/67649]  |
| 专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 谭军, 万晔, 张磊, 温井龙 and 姚戈. 一种小尺度片状样品三点弯曲力学性能测试方法和装置. 2007-02-28. |
入库方式： OAI收割
来源：金属研究所
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