一种应变测量的方法
文献类型:专利
作者 | 温井龙, 谭军 and 姚戈 |
发表日期 | 2012-07-11 |
专利国别 | 中国 |
专利类型 | 发明专利 |
权利人 | 中国科学院金属研究所 |
中文摘要 | 本发明涉及应变测量领域,具体为一种能够满足拉伸样品应变测量的方法,解决现有技术中难以揭示材料应变本征特征的应变等问题。(1)在样品表面喷涂散斑测量用喷漆;样品表面喷涂散斑测量用的喷漆应与样品表面样色形成鲜明对比;(2)在拉伸试验机上装夹样品,连接测量装置,设置测量参数,并开始试验,记录试验数据;(3)散斑测量点的大小为0.1-50μm,散斑为随机分布,测量散斑测量点的应变分布,形成带有应变梯度分布的测量报告。本发明方法给出的应变分布,对于揭示材料的本征特征有着重要的意义,具体应用散斑测量技术实现对拉伸样品表面的测量得到全场的应变分布。 |
公开日期 | 2012-07-11 |
语种 | 中文 |
专利申请号 | CN102564282A |
源URL | [http://210.72.142.130/handle/321006/67723] ![]() |
专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 温井龙, 谭军 and 姚戈. 一种应变测量的方法. 2012-07-11. |
入库方式: OAI收割
来源:金属研究所
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