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高分辨扫描电子显微镜在无机材料方面的应用

文献类型:期刊论文

作者Y. Zeng1 ; W. Wu ; Z.W. Liu ; J.J. Hua ; C.C. Lin ; Q. Feng
刊名高分辨扫描电子显微镜在无机材料方面的应用The application of high-resolution scanning electron microscopy to inorganic materials
出版日期2012-12-19
期号0页码:0-0
其他题名The application of high-resolution scanning electron microscopy to inorganic materials
通讯作者Y. Zeng
中文摘要This paper is an overview of the effect of scanning electron microscope (SEM) operational parameters on the microstructure of inorganic materials. Examples are shown by selecting different parameters of voltage, detector and working distance that are common but hard to be optimized for daily operations. These will help to get the ideal as well as real morphology of non-conductive inorganic materials using SEM.
学科主题材料化学
公开日期2013-07-19
源URL[http://ir.sic.ac.cn/handle/331005/3666]  
专题上海硅酸盐研究所_无机材料分析测试中心_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
Y. Zeng1,W. Wu,Z.W. Liu,等. 高分辨扫描电子显微镜在无机材料方面的应用[J]. 高分辨扫描电子显微镜在无机材料方面的应用The application of high-resolution scanning electron microscopy to inorganic materials,2012(0):0-0.
APA Y. Zeng1,W. Wu,Z.W. Liu,J.J. Hua,C.C. Lin,&Q. Feng.(2012).高分辨扫描电子显微镜在无机材料方面的应用.高分辨扫描电子显微镜在无机材料方面的应用The application of high-resolution scanning electron microscopy to inorganic materials(0),0-0.
MLA Y. Zeng1,et al."高分辨扫描电子显微镜在无机材料方面的应用".高分辨扫描电子显微镜在无机材料方面的应用The application of high-resolution scanning electron microscopy to inorganic materials .0(2012):0-0.

入库方式: OAI收割

来源:上海硅酸盐研究所

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