X-ray probe of GaN thin films grown on InGaN compliant substrates
文献类型：期刊论文
| 作者 | Xu, Xiaoqing ; Li, Yang ; Liu, Jianming ; Wei, Hongyuan ; Liu, Xianglin ; Yang, Shaoyan ; Wang, Zhanguo ; Wang, Huanhua |
| 刊名 | applied physics letters
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| 出版日期 | 2013 |
| 卷号 | 102期号:13页码:132104 |
| 学科主题 | 半导体材料 |
| 收录类别 | SCI |
| 语种 | 英语 |
| 公开日期 | 2013-08-27 |
| 源URL | [http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/24306]  |
| 专题 | 半导体研究所_中科院半导体材料科学重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Xu, Xiaoqing,Li, Yang,Liu, Jianming,et al. X-ray probe of GaN thin films grown on InGaN compliant substrates[J]. applied physics letters,2013,102(13):132104. |
| APA | Xu, Xiaoqing.,Li, Yang.,Liu, Jianming.,Wei, Hongyuan.,Liu, Xianglin.,...&Wang, Huanhua.(2013).X-ray probe of GaN thin films grown on InGaN compliant substrates.applied physics letters,102(13),132104. |
| MLA | Xu, Xiaoqing,et al."X-ray probe of GaN thin films grown on InGaN compliant substrates".applied physics letters 102.13(2013):132104. |
入库方式： OAI收割
来源：半导体研究所
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