Shock-induced brittle cracking in HVPE-GaN processed by laser lift-off techniques
文献类型:期刊论文
作者 | Su, X. J. ; Xu, K. ; Xu, Y. ; Ren, G. Q. ; Zhang, J. C. ; Wang, J. F. ; Yang, H. |
刊名 | journal of physics d-applied physics |
出版日期 | 2013 |
卷号 | 46期号:20页码:205103 |
学科主题 | 光电子学 |
收录类别 | SCI |
语种 | 英语 |
公开日期 | 2013-08-27 |
源URL | [http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/24272] |
专题 | 半导体研究所_集成光电子学国家重点实验室 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | Su, X. J.,Xu, K.,Xu, Y.,et al. Shock-induced brittle cracking in HVPE-GaN processed by laser lift-off techniques[J]. journal of physics d-applied physics,2013,46(20):205103. |
APA | Su, X. J..,Xu, K..,Xu, Y..,Ren, G. Q..,Zhang, J. C..,...&Yang, H..(2013).Shock-induced brittle cracking in HVPE-GaN processed by laser lift-off techniques.journal of physics d-applied physics,46(20),205103. |
MLA | Su, X. J.,et al."Shock-induced brittle cracking in HVPE-GaN processed by laser lift-off techniques".journal of physics d-applied physics 46.20(2013):205103. |
入库方式: OAI收割
来源:半导体研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。