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Shock-induced brittle cracking in HVPE-GaN processed by laser lift-off techniques

文献类型:期刊论文

作者Su, X. J. ; Xu, K. ; Xu, Y. ; Ren, G. Q. ; Zhang, J. C. ; Wang, J. F. ; Yang, H.
刊名journal of physics d-applied physics
出版日期2013
卷号46期号:20页码:205103
学科主题光电子学
收录类别SCI
语种英语
公开日期2013-08-27
源URL[http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/24272]  
专题半导体研究所_集成光电子学国家重点实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
Su, X. J.,Xu, K.,Xu, Y.,et al. Shock-induced brittle cracking in HVPE-GaN processed by laser lift-off techniques[J]. journal of physics d-applied physics,2013,46(20):205103.
APA Su, X. J..,Xu, K..,Xu, Y..,Ren, G. Q..,Zhang, J. C..,...&Yang, H..(2013).Shock-induced brittle cracking in HVPE-GaN processed by laser lift-off techniques.journal of physics d-applied physics,46(20),205103.
MLA Su, X. J.,et al."Shock-induced brittle cracking in HVPE-GaN processed by laser lift-off techniques".journal of physics d-applied physics 46.20(2013):205103.

入库方式: OAI收割

来源:半导体研究所

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