Strain Field Mapping of Dislocations in a Ge/Si Heterostructure
文献类型:期刊论文
作者 | Liu, Quanlong ; Zhao, Chunwang ; Su, Shaojian ; Li, Jijun ; Xing, Yongming ; Cheng, Buwen |
刊名 | plos one
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出版日期 | 2013 |
卷号 | 8期号:4页码:e62672 |
学科主题 | 光电子学 |
收录类别 | SCI |
语种 | 英语 |
公开日期 | 2013-08-27 |
源URL | [http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/24300] ![]() |
专题 | 半导体研究所_集成光电子学国家重点实验室 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | Liu, Quanlong,Zhao, Chunwang,Su, Shaojian,et al. Strain Field Mapping of Dislocations in a Ge/Si Heterostructure[J]. plos one,2013,8(4):e62672. |
APA | Liu, Quanlong,Zhao, Chunwang,Su, Shaojian,Li, Jijun,Xing, Yongming,&Cheng, Buwen.(2013).Strain Field Mapping of Dislocations in a Ge/Si Heterostructure.plos one,8(4),e62672. |
MLA | Liu, Quanlong,et al."Strain Field Mapping of Dislocations in a Ge/Si Heterostructure".plos one 8.4(2013):e62672. |
入库方式: OAI收割
来源:半导体研究所
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