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量子井戸構造を有する化合物半導体層の成長方法及び化合物半導体薄膜積層構造の形成方法

文献类型:专利

作者石川 秀人; ヤン·ルベレゴ; 奥洞 明彦
专利号JP1995094430A
著作权人SONY CORP
国家日本
文献子类发明申请
其他题名量子井戸構造を有する化合物半導体層の成長方法及び化合物半導体薄膜積層構造の形成方法
英文摘要【目的】量子井戸構造を有する化合物半導体層の結晶成長において限りなく急峻で平坦な界面を得ることができる化合物半導体成長方法を提供する。 【構成】本発明の化合物半導体層の成長方法は、井戸層と障壁層から成る量子井戸構造を有する化合物半導体層を、有機金属気相成長法(MOCVD法)による化合物半導体のエピタキシャル成長によって基板上に成長させる方法であって、井戸層をエピタキシャル成長させた後、障壁層を形成するための原料の一部の供給を中断して、一定期間の間、障壁層のエピタキシャル成長を停止させることを特徴とする。
公开日期1995-04-07
申请日期1994-01-26
状态失效
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/43724]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位SONY CORP
推荐引用方式
GB/T 7714
石川 秀人,ヤン·ルベレゴ,奥洞 明彦. 量子井戸構造を有する化合物半導体層の成長方法及び化合物半導体薄膜積層構造の形成方法. JP1995094430A.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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