半导体激光器参数测试用填充液态导热媒质控温装置
文献类型：专利
| 作者 | 赵英杰; 张永明; 钟景昌; 李梅; 赵宇斯; 郝永芹; 晏长岭; 苏伟; 李林; 姜晓光 |
| 发表日期 | 2007-02-07 |
| 专利号 | CN1299408C |
| 著作权人 | 长春理工大学 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 授权发明 |
| 其他题名 | 半导体激光器参数测试用填充液态导热媒质控温装置 |
| 英文摘要 | 半导体激光器参数测试用填充液态导热媒质控温装置属于半导体激光器器件可靠性参数测试技术领域。相关的现有技术存在温度梯度大、加热惯性大等弊端，使得所确认的被测器件温度与实际温度相差较大；又由于光电探测器件在保温箱内一同被加热，从而使其处在非正常工作条件下，探测结果受到影响。本发明之装置采用液态导热媒质通过对流传递热量，在加热棒和被测器件之间安放控温传感器控温，在被测器件附近安放精密温度探测器测温，将光电探测器件安装在保温箱外部。通过这些措施可以克服现有技术的不足。本发明可应用于包括特征温度在内的半导体激光器各种参数的测试。 |
| 公开日期 | 2007-02-07 |
| 申请日期 | 2004-09-09 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/44739]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 长春理工大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 赵英杰,张永明,钟景昌,等. 半导体激光器参数测试用填充液态导热媒质控温装置. CN1299408C. 2007-02-07. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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