半导体激光器可靠性检测分析方法及其装置
文献类型：专利
| 作者 | 石家纬; 金恩顺; 李正庭; 李红岩; 郭树旭; 高鼎三 |
| 发表日期 | 2000-03-15 |
| 专利号 | CN1050454C |
| 著作权人 | 吉林大学 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 授权发明 |
| 其他题名 | 半导体激光器可靠性检测分析方法及其装置 |
| 英文摘要 | 本发明涉及一种半导体激光器参数测试和可靠性分析的方法及装置。该装置主要由微机（１）、样品箱（３）、数据采集板（４）、电流电压转换电路（７）、光电探测器（３０）、电压电流转换电路（１０）及信号源（１１）和锁相放大器（８）等构成。通过对器件（２９）电导数曲线、热阻、功率及变温曲线等的测试，用测得的参数对器件进行可靠性分析。本发明具有微机化、自动化、加温均匀、一次逐个检测多个器件等特点，实现对器件可靠性无损、快速、简便的检测和分析。 |
| 公开日期 | 2000-03-15 |
| 申请日期 | 1995-08-11 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/45040]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 吉林大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 石家纬,金恩顺,李正庭,等. 半导体激光器可靠性检测分析方法及其装置. CN1050454C. 2000-03-15. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。