探测器表面响应特性测试仪
文献类型：专利
| 作者 | 简献忠; 李湘宁; 王朝立; 赵虎; 张会林 |
| 发表日期 | 2006-07-05 |
| 专利号 | CN2793696Y |
| 著作权人 | 上海理工大学 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 实用新型 |
| 其他题名 | 探测器表面响应特性测试仪 |
| 英文摘要 | 一种探测器表面响应特性测试仪，该测试仪包括光学聚焦系统、XY两轴位置控制平台、信号放大与采集系统、控制与显示系统。由计算机分别连接并控制I/O端口和A/D转换器，I/O端口分别连接并控制X、Y轴步进电机驱动电路和半导体激光器，X、Y轴步进电机驱动电路分别连接并控制X、Y轴步进电机，从而控制二维位移平台，半导体激光器的光束经过设有直径0.1mm小孔的聚焦镜筒形成＜0.1mm直径的光斑，光斑照射于设在XY二维位移平台上的探测器表面使其产生响应的电信号，探测器表面经放大器连接A/D转换器，电信号经放大器放大后，由A/D转换器转换为数据信号送计算机处理。 |
| 公开日期 | 2006-07-05 |
| 申请日期 | 2005-04-28 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/45061]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 上海理工大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 简献忠,李湘宁,王朝立,等. 探测器表面响应特性测试仪. CN2793696Y. 2006-07-05. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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