一种多发光单元半导体激光器空间光束轮廓的测试装置
文献类型：专利
| 作者 | 刘晖; 王昊; 孙翔; 沈泽南; 吴迪 ; 刘兴胜
|
| 发表日期 | 2015-09-30 |
| 专利号 | CN204679249U |
| 著作权人 | 西安炬光科技股份有限公司 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 实用新型 |
| 其他题名 | 一种多发光单元半导体激光器空间光束轮廓的测试装置 |
| 英文摘要 | 本实用新型提出了一种多发光单元半导体激光器空间光束轮廓的测试装置，可以同时能够表征半导体激光器在快慢轴两个方向上的光斑分析，能够同时获取快慢轴两个方向上的发光点强度和相对位置信息。本实用新型结构简单，可靠性高，能够直接获取半导体激光器空间光束轮廓图样，同时表征半导体激光器在快慢轴方向上的腔面强度分布和各个发光的空间相对位置，为定性和定量地分析半导体激光器内部及封装中的缺陷、热、应力等因素对半导体激光器输出特性的影响提供指导，能够为研制高性能半导体激光器提供指导。 |
| 公开日期 | 2015-09-30 |
| 申请日期 | 2015-06-09 |
| 状态 | 授权 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/45139]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 西安炬光科技股份有限公司 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘晖,王昊,孙翔,等. 一种多发光单元半导体激光器空间光束轮廓的测试装置. CN204679249U. 2015-09-30. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。