超外差与外差结合式抗光学混叠激光测距装置与方法
文献类型：专利
| 作者 | 杨宏兴; 谭久彬; 胡鹏程 |
| 发表日期 | 2016-10-12 |
| 专利号 | CN104049248B |
| 著作权人 | 哈尔滨工业大学 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 授权发明 |
| 其他题名 | 超外差与外差结合式抗光学混叠激光测距装置与方法 |
| 英文摘要 | 超外差与外差结合式抗光学混叠激光测距装置与方法属于相位激光测距技术，所述测距装置包括测尺生成单元、激光移频单元、扩束准直镜组、测量光路及电路单元；其测距方法包括步骤如下：步骤一、开启频率基准激光器、半导体激光器和稳频He‑Ne激光器；步骤二、一束作为参考激光束，另一束作为测量激光；步骤三、以作为精测尺；步骤四、以作为粗测尺；步骤五、移动测量角椎棱镜至目标端，分别得到精测尺与粗测尺的相位差Φ1和Φ2，最后通过公式得到被测距离值；本发明解决了超长波长和超短波长的不能同步产生，激光测尺不可直接溯源和非线性周期误差和频率混叠的问题，具有测量效率高、精度高、稳定性和实时性强的特点。 |
| 公开日期 | 2016-10-12 |
| 申请日期 | 2014-06-14 |
| 状态 | 授权 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/45148]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 哈尔滨工业大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 杨宏兴,谭久彬,胡鹏程. 超外差与外差结合式抗光学混叠激光测距装置与方法. CN104049248B. 2016-10-12. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。