高功率半导体激光器模块的检测装置和方法
文献类型：专利
| 作者 | 辛国锋; 瞿荣辉; 蔡海文; 方祖捷; 陈高庭; 沈力; 皮浩洋 |
| 发表日期 | 2012-02-15 |
| 专利号 | CN101839771B |
| 著作权人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 授权发明 |
| 其他题名 | 高功率半导体激光器模块的检测装置和方法 |
| 英文摘要 | 一种高功率半导体激光器模块的测试装置和方法，该装置包括测试棒、测试棒固定夹具、聚焦透镜、导光光纤和探测器，所述的测试棒是由一端具有45°斜截面并镀有对激光二极管波长的高反膜，另一端截面为正圆面的两根结构相同的透明材料棒且所述的斜截面相对共轴胶合而成，测试棒置于所述的测试棒固定夹具上，在所述的测试棒的一端或两端外设置所述的聚焦透镜，所述的导光光纤的一端位于所述的聚焦透镜的焦点，另一端接所述的探测器的输入端。本发明适于半圆环形或圆环形的封装结构的高功率半导体激光器模块的测量，具有结构简单和测试操作方便的优点。 |
| 公开日期 | 2012-02-15 |
| 申请日期 | 2010-05-21 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/45176]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 辛国锋,瞿荣辉,蔡海文,等. 高功率半导体激光器模块的检测装置和方法. CN101839771B. 2012-02-15. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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