半导体激光芯片组件的测试装置
文献类型：专利
| 作者 | 胡海; 夏虹; 刘文斌; 王泰山; 李成鹏; 赵楚中 |
| 发表日期 | 2015-04-22 |
| 专利号 | CN204287405U |
| 著作权人 | 深圳瑞波光电子有限公司 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 实用新型 |
| 其他题名 | 半导体激光芯片组件的测试装置 |
| 英文摘要 | 本实用新型公开了一种半导体激光芯片组件的测试装置，包括：芯片载台，用于放置待测试的半导体激光芯片组件；探针载板，用于承载至少两个探针；传动组件，用于相对所述芯片载台传动所述探针载板，以使所述至少两个探针能够在所述传动组件的一次传动过程中分别接触位于所述半导体激光芯片组件的两端的不同电极。通过上述方式，本实用新型能够实现对热沉的均匀压力和电流注入，对半导体激光芯片组件进行无损测试。 |
| 公开日期 | 2015-04-22 |
| 申请日期 | 2014-10-17 |
| 状态 | 授权 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/45300]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 深圳瑞波光电子有限公司 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 胡海,夏虹,刘文斌,等. 半导体激光芯片组件的测试装置. CN204287405U. 2015-04-22. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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