一种半导体激光器特性测试系统
文献类型：专利
| 作者 | 刘兴胜 ; 吴迪; 张彦鑫; 杨凯; 李锋
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| 发表日期 | 2013-01-02 |
| 专利号 | CN102109571B |
| 著作权人 | 西安炬光科技股份有限公司 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 授权发明 |
| 其他题名 | 一种半导体激光器特性测试系统 |
| 英文摘要 | 本发明公开了一种半导体激光器特性测试系统，包括半导体激光器驱动器、三维平行导轨、激光器温度控制模块、LIV和光谱测试模块、偏振测试模块、近场光斑测试模块、近场非线性测试模块、远场测试模块、空间光谱测试模块、中央软件处理模块。同时可根据需要选择工作模块。本发明用于对半导体激光器，尤其是高功率半导体激光器的高精度和自动化测试，降低半导体激光器的检测和生产制造成本。 |
| 公开日期 | 2013-01-02 |
| 申请日期 | 2010-12-16 |
| 状态 | 授权 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/45416]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 西安炬光科技股份有限公司 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘兴胜,吴迪,张彦鑫,等. 一种半导体激光器特性测试系统. CN102109571B. 2013-01-02. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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