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一种测量平板型透明介质折射率的装置和方法

文献类型:专利

作者叶丽军; 许富洋; 范晓珍
发表日期2016-06-29
专利号CN102749303B
著作权人浙江师范大学
国家中国
文献子类授权发明
其他题名一种测量平板型透明介质折射率的装置和方法
英文摘要一种测量平板型透明介质折射率的装置包括暗盒、半导体激光器、毛玻璃屏、会聚透镜、薄毛玻璃屏、CCD摄像头、精密移台、平台衬板,平台衬板设置在暗盒内,半导体激光器、毛玻璃屏、会聚透镜、精密平移台安装在平台衬板上,薄毛玻璃屏、CCD摄像头安装在精密平移台上,随精密平移台同步移动,半导体激光器、毛玻璃屏、会聚透镜、薄毛玻璃屏、CCD摄像头依次同轴排列设置在暗盒内,暗盒上设有遮光盖。采用该装置测量平板型透明介质折射率的方法为:将待测平板型介质置于会聚透镜和精密平移台之间,待测介质放入前后,在薄毛玻璃屏上的圆形光斑直径会发生变化,在定标的基础上,只需知道待测介质放入后的光斑直径,即可得到该介质的折射率,相应的圆形光斑图像通过CCD摄像头由计算机实时获取并测量。该方法适用于固体和液体介质折射率的测量,操作简便,测量数据少,测量范围不受限制,并可用于折射率的实时监测。
公开日期2016-06-29
申请日期2012-07-14
状态失效
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/46860]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位浙江师范大学
推荐引用方式
GB/T 7714
叶丽军,许富洋,范晓珍. 一种测量平板型透明介质折射率的装置和方法. CN102749303B. 2016-06-29.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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