一种测量平板型透明介质折射率的装置和方法
文献类型:专利
作者 | 叶丽军; 许富洋; 范晓珍 |
发表日期 | 2016-06-29 |
专利号 | CN102749303B |
著作权人 | 浙江师范大学 |
国家 | 中国 |
文献子类 | 授权发明 |
其他题名 | 一种测量平板型透明介质折射率的装置和方法 |
英文摘要 | 一种测量平板型透明介质折射率的装置包括暗盒、半导体激光器、毛玻璃屏、会聚透镜、薄毛玻璃屏、CCD摄像头、精密移台、平台衬板,平台衬板设置在暗盒内,半导体激光器、毛玻璃屏、会聚透镜、精密平移台安装在平台衬板上,薄毛玻璃屏、CCD摄像头安装在精密平移台上,随精密平移台同步移动,半导体激光器、毛玻璃屏、会聚透镜、薄毛玻璃屏、CCD摄像头依次同轴排列设置在暗盒内,暗盒上设有遮光盖。采用该装置测量平板型透明介质折射率的方法为:将待测平板型介质置于会聚透镜和精密平移台之间,待测介质放入前后,在薄毛玻璃屏上的圆形光斑直径会发生变化,在定标的基础上,只需知道待测介质放入后的光斑直径,即可得到该介质的折射率,相应的圆形光斑图像通过CCD摄像头由计算机实时获取并测量。该方法适用于固体和液体介质折射率的测量,操作简便,测量数据少,测量范围不受限制,并可用于折射率的实时监测。 |
公开日期 | 2016-06-29 |
申请日期 | 2012-07-14 |
状态 | 失效 |
源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/46860] ![]() |
专题 | 半导体激光器专利数据库 |
作者单位 | 浙江师范大学 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 叶丽军,许富洋,范晓珍. 一种测量平板型透明介质折射率的装置和方法. CN102749303B. 2016-06-29. |
入库方式: OAI收割
来源:西安光学精密机械研究所
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