高功率半导体激光器可靠性检测系统
文献类型：专利
| 作者 | 白端元; 高欣; 薄报学; 周路 |
| 发表日期 | 2014-05-21 |
| 专利号 | CN203606464U |
| 著作权人 | 长春理工大学 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 实用新型 |
| 其他题名 | 高功率半导体激光器可靠性检测系统 |
| 英文摘要 | 一种高功率半导体激光器可靠性检测系统属于高功率半导体激光器可靠性检测装置领域，该系统包括驱动电源、测试盒、放大器、数据采集处理单元、参数提取单元、存储单元和打印及显示单元。该高功率半导体激光器可靠性检测系统精度高、性能可靠，体积小巧而且便于携带，能够便捷、高效地满足高功率半导体激光器在各种环境条件下的可靠性检测需求，此外，该可靠性检测系统还具有结构简单实用，操作方便，成本低廉，便于推广普及等优点。 |
| 公开日期 | 2014-05-21 |
| 申请日期 | 2013-12-09 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/46985]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 长春理工大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 白端元,高欣,薄报学,等. 高功率半导体激光器可靠性检测系统. CN203606464U. 2014-05-21. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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