激光表面粗糙度检查仪
文献类型：专利
| 作者 | 李纯甫; 李宁 ; 杨国田; 华雷
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| 发表日期 | 1993-05-12 |
| 专利号 | CN2132973Y |
| 著作权人 | 李纯甫 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 实用新型 |
| 其他题名 | 激光表面粗糙度检查仪 |
| 英文摘要 | 本实用新型是激光非接触式表面粗糙度检查仪，它由半导体激光器、光电元件组、放大器、计算机、显示器等组成，通过测量从被测表面反射回来的散射光的分布，由计算机分析光电元件组接收的信号，准确地显示表面粗糙度，具有结构简单、体积小、重量轻、便携带的特点、工作寿命长、测量精度高、元件性能价格比低，特别适用于精密加工工件表面的测量，是生产车间实现快速、无损测量的理想用具。 |
| 公开日期 | 1993-05-12 |
| 申请日期 | 1992-08-05 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/47029]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 李纯甫 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李纯甫,李宁,杨国田,等. 激光表面粗糙度检查仪. CN2132973Y. 1993-05-12. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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