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GaN系結晶膜の製造方法

文献类型:专利

作者伊藤 茂稔; 近江 晋
发表日期2009-10-16
专利号JP4390090B2
著作权人シャープ株式会社
国家日本
文献子类授权发明
其他题名GaN系結晶膜の製造方法
英文摘要(修正有) 【課題】 GaN系半導体デバイスの結晶成長用に適し、欠陥密度の低い高品質のGaN系結晶連続膜を備えた結晶基板とその製造方法を提供する。 【解決手段】 本結晶基板には表面がC面のサファイア基板101上にGaNバッファ層102、エピタキシャル成長GaN層103、及びSiO2膜104が順次形成された基体10上に、複数の島状GaN系結晶11と、その上に形成されたGaN系結晶連続膜12とを備えている。GaN層103の表面に複数の開口部105を有するSiO2膜104を真空蒸着やCVD法で形成後、NH3とN2の混合雰囲気中でGaN粉末原料を昇華させ、基体上の該開口部105にGaN系化合物を選択再結晶化させることにより、複数の島状GaN系結晶11を得る第1の結晶成長工程と、該結晶11を核としてGaN系結晶を形成することにより、GaN系結晶連続膜12を得る第2の結晶成長工程とから成る。
公开日期2009-12-24
申请日期1998-05-18
状态失效
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/47386]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位シャープ株式会社
推荐引用方式
GB/T 7714
伊藤 茂稔,近江 晋. GaN系結晶膜の製造方法. JP4390090B2. 2009-10-16.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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