半导体元件及其制造方法
文献类型:专利
作者 | 橘浩一; 斋藤真司; 布上真也 |
发表日期 | 2009-04-08 |
专利号 | CN100477421C |
著作权人 | 阿尔发得株式会社 |
国家 | 中国 |
文献子类 | 授权发明 |
其他题名 | 半导体元件及其制造方法 |
英文摘要 | 本发明提供一种可靠性高的半导体元件。该半导体元件包括,衬底;多层膜,所述多层膜具有设置于衬底上的第1导电型覆层、设置于第1导电型覆层上的第1导电型导层、设置于第1导电型导层上的有源层、设置于有源层上的第2导电型导层、设置于第2导电型导层上的第2导电型覆层,并且上述层分别由氮化物系Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体构成;设置于有源层的射出面上的、由氮化物构成的第1保护层;设置于上述第1保护层上的、由折射率与第1保护层不同的氮化物构成的第2保护层。 |
公开日期 | 2009-04-08 |
申请日期 | 2006-07-10 |
状态 | 授权 |
源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/47994] ![]() |
专题 | 半导体激光器专利数据库 |
作者单位 | 阿尔发得株式会社 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 橘浩一,斋藤真司,布上真也. 半导体元件及其制造方法. CN100477421C. 2009-04-08. |
入库方式: OAI收割
来源:西安光学精密机械研究所
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