一种发光二极管芯片制造方法
文献类型:专利
作者 | 朱广敏; 张楠; 郝茂盛; 齐胜利; 杨卫桥; 陈志忠; 张国义 |
发表日期 | 2009-09-16 |
专利号 | CN100541850C |
著作权人 | 上海蓝光科技有限公司 |
国家 | 中国 |
文献子类 | 授权发明 |
其他题名 | 一种发光二极管芯片制造方法 |
英文摘要 | 一种发光二极管芯片制造方法,在做芯片的常规工艺之前,采用掩膜技术,用激光划片技术、ICP技术或RIE技术对芯片的走道刻蚀至蓝宝石衬底或刻入蓝宝石衬底5-50微米,再用磷酸(温度为100-220度)、熔融的KOH或加热的浓KOH溶液对芯片的侧壁和暴露在侧壁的N-GaN进行湿法腐蚀,使芯片形成倾斜角小于90度的侧壁或使芯片侧壁底部与蓝宝石衬底部分脱离,形成侧壁向内悬空3-40微米,采用SC-2溶液和有机溶液清洗外延片,再进行ICP或RIE刻蚀至N-GaN,最后做常规工艺。实验结果表明,芯片的出光效率大大提升,其亮度和毫瓦数均比常规工艺芯片提升30%以上。 |
公开日期 | 2009-09-16 |
申请日期 | 2008-08-28 |
状态 | 授权 |
源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/48014] ![]() |
专题 | 半导体激光器专利数据库 |
作者单位 | 上海蓝光科技有限公司 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 朱广敏,张楠,郝茂盛,等. 一种发光二极管芯片制造方法. CN100541850C. 2009-09-16. |
入库方式: OAI收割
来源:西安光学精密机械研究所
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