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一种发光二极管芯片制造方法

文献类型:专利

作者朱广敏; 张楠; 郝茂盛; 齐胜利; 杨卫桥; 陈志忠; 张国义
发表日期2009-09-16
专利号CN100541850C
著作权人上海蓝光科技有限公司
国家中国
文献子类授权发明
其他题名一种发光二极管芯片制造方法
英文摘要一种发光二极管芯片制造方法,在做芯片的常规工艺之前,采用掩膜技术,用激光划片技术、ICP技术或RIE技术对芯片的走道刻蚀至蓝宝石衬底或刻入蓝宝石衬底5-50微米,再用磷酸(温度为100-220度)、熔融的KOH或加热的浓KOH溶液对芯片的侧壁和暴露在侧壁的N-GaN进行湿法腐蚀,使芯片形成倾斜角小于90度的侧壁或使芯片侧壁底部与蓝宝石衬底部分脱离,形成侧壁向内悬空3-40微米,采用SC-2溶液和有机溶液清洗外延片,再进行ICP或RIE刻蚀至N-GaN,最后做常规工艺。实验结果表明,芯片的出光效率大大提升,其亮度和毫瓦数均比常规工艺芯片提升30%以上。
公开日期2009-09-16
申请日期2008-08-28
状态授权
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/48014]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位上海蓝光科技有限公司
推荐引用方式
GB/T 7714
朱广敏,张楠,郝茂盛,等. 一种发光二极管芯片制造方法. CN100541850C. 2009-09-16.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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