一种太赫兹量子级联激光器增益谱测量器件
文献类型：专利
| 作者 | 徐天鸿; 曹俊诚 |
| 发表日期 | 2016-09-14 |
| 专利号 | CN205583368U |
| 著作权人 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 实用新型 |
| 其他题名 | 一种太赫兹量子级联激光器增益谱测量器件 |
| 英文摘要 | 本实用新型提供一种太赫兹量子级联激光器增益谱测量器件，所述器件包括：半绝缘GaAs衬底；位于该衬底上表面的GaAs缓冲层；位于该缓冲层表面的n型重掺杂下接触层；位于该下接触层表面的有源区；位于有源区表面的n型重掺杂上接触层；位于n型重掺杂上接触层表面且各自分隔的第一、第二、第三上电极金属层，第一上电极金属层与第二上电极金属层之间设有凹至GaAs缓冲层的深隔离槽，第三上电极金属层为退火后可形成高波导损耗的上电极金属层；以及位于n型重掺杂下接触层表面及有源区两侧的下电极金属层。通过本实用新型提供的一种太赫兹量子级联激光器增益谱测量器件，解决了现有技术中无法测得THz QCL在可工作电流密度范围内完整的增益谱变化情况的问题。 |
| 公开日期 | 2016-09-14 |
| 申请日期 | 2016-04-22 |
| 状态 | 授权 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/48084]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 徐天鸿,曹俊诚. 一种太赫兹量子级联激光器增益谱测量器件. CN205583368U. 2016-09-14. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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