基于光开关的半导体激光器通道代价自动测试系统
文献类型：专利
| 作者 | 张笑天; 张文斌; 于晶; 杨炳雄 |
| 发表日期 | 2011-09-28 |
| 专利号 | CN201993223U |
| 著作权人 | 大连艾科科技开发有限公司 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 实用新型 |
| 其他题名 | 基于光开关的半导体激光器通道代价自动测试系统 |
| 英文摘要 | 本实用新型公开一种基于光开关的半导体激光器通道代价自动测试系统，设有第一光开关，与第一光开关相接有示波器及光谱分析仪；与第一光开关还相接有第二光开关，第二光开关的输出依次通过衰减器、接收器与误码分析仪相接。每次测试通道代价时，只需要更换被测激光器即可，无需再次插拔测试设备，操作简单、测试效率高，可大大减少了人为误差和系统误差，从而提高了测试结果的可靠性。 |
| 公开日期 | 2011-09-28 |
| 申请日期 | 2010-12-23 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/48555]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 大连艾科科技开发有限公司 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张笑天,张文斌,于晶,等. 基于光开关的半导体激光器通道代价自动测试系统. CN201993223U. 2011-09-28. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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