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GaN基半导体器件

文献类型:专利

作者后藤修; 松本治; 佐佐木智美; 池田昌夫
发表日期2008-12-03
专利号CN100440656C
著作权人索尼株式会社
国家中国
文献子类授权发明
其他题名GaN基半导体器件
英文摘要一种GaN半导体发光器件,形成在GaN单晶衬底上且具有使电流泄漏更小的结构。该GaN半导体激光器件(50)包括设置在多层结构上的p侧和n侧电极,并具有与蓝宝石衬底上制造的传统GaN半导体激光器件相同的结构,除了用GaN单晶衬底(52)取代蓝宝石衬底且GaN化合物半导体层的多层结构直接形成在GaN单晶衬底(52)上而未形成GaN-ELO结构层之外。GaN单晶衬底(52)具有每个均具有10μm的宽度的连续带状核部分(52a),核部分(52)之间的距离约400μm。激光带(30)、p侧电极(36)的金属焊垫(37)、以及n侧电极(38)设置在除核部分(52a)之外的区域上的多层结构上。金属焊垫(37)的侧边缘与核部分的边缘之间的水平距离Sp和n侧电极(38)与核部分(52a)的边缘之间的水平距离Sn都为95μm。
公开日期2008-12-03
申请日期2003-06-19
状态授权
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/48937]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位索尼株式会社
推荐引用方式
GB/T 7714
后藤修,松本治,佐佐木智美,等. GaN基半导体器件. CN100440656C. 2008-12-03.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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