高功率半导体激光器测试系统
文献类型：专利
| 作者 | 白端元; 高欣; 薄报学; 周路; 朱海忱 |
| 发表日期 | 2014-05-21 |
| 专利号 | CN203606109U |
| 著作权人 | 长春理工大学 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 实用新型 |
| 其他题名 | 高功率半导体激光器测试系统 |
| 英文摘要 | 高功率半导体激光器测试系统属于高功率半导体激光器测试装置领域，该系统包括噪声检测单元、单色仪、光功率计、LD驱动电源、制冷器、控制单元、制冷器驱动单元、RS232、PC机、温度控制器和温度采集单元；噪声检测单元、单色仪、光功率计、LD驱动电源、制冷器分别与高功率半导体激光器相连，控制单元分别与噪声检测单元、单色仪、光功率计、LD驱动电源、制冷器、RS232、制冷器驱动单元相连，制冷器驱动单元与制冷器相连，PC机分别与RS232、温度控制器相连，温度采集单元分别与高功率半导体激光器、温度控制器相连。本实用新型的测试系统由于采用温度控制器，所以能够在激光器工作时温度变化的情况下，实时准确测出激光器的噪声、光谱、光功率等性能指标。 |
| 公开日期 | 2014-05-21 |
| 申请日期 | 2013-12-09 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/49017]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 长春理工大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 白端元,高欣,薄报学,等. 高功率半导体激光器测试系统. CN203606109U. 2014-05-21. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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