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降低电子泄漏的砷化镓激光器的制作方法

文献类型:专利

作者李翔; 赵德刚; 江德生; 刘宗顺; 陈平; 朱建军
发表日期2018-01-12
专利号CN104300366B
著作权人中国科学院半导体研究所
国家中国
文献子类授权发明
其他题名降低电子泄漏的砷化镓激光器的制作方法
英文摘要一种降低电子泄漏的砷化镓激光器的制作方法,包括以下步骤:步骤1:在砷化镓衬底依次外延生长N型限制层、N型波导层、量子阱有源区、P型波导层、窄带隙插入层、宽带隙插入层、P型限制层和P型接触层;步骤2:采用湿法腐蚀或干法刻蚀的方法,将P型接触层和P型限制层刻蚀成脊型;步骤3:在P型接触层的上表面制作P型欧姆电极;步骤4:将砷化镓衬底减薄、清洗;步骤5:在砷化镓衬底的背面制作N型欧姆电极,形成激光器;步骤6:进行解理,在激光器的腔面镀膜,最后封装在管壳上,完成制作。本发明可以大大降低电子泄漏。
公开日期2018-01-12
申请日期2014-10-21
状态授权
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/49261]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位中国科学院半导体研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
李翔,赵德刚,江德生,等. 降低电子泄漏的砷化镓激光器的制作方法. CN104300366B. 2018-01-12.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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