降低电子泄漏的砷化镓激光器的制作方法
文献类型:专利
作者 | 李翔; 赵德刚; 江德生; 刘宗顺; 陈平; 朱建军 |
发表日期 | 2018-01-12 |
专利号 | CN104300366B |
著作权人 | 中国科学院半导体研究所 |
国家 | 中国 |
文献子类 | 授权发明 |
其他题名 | 降低电子泄漏的砷化镓激光器的制作方法 |
英文摘要 | 一种降低电子泄漏的砷化镓激光器的制作方法,包括以下步骤:步骤1:在砷化镓衬底依次外延生长N型限制层、N型波导层、量子阱有源区、P型波导层、窄带隙插入层、宽带隙插入层、P型限制层和P型接触层;步骤2:采用湿法腐蚀或干法刻蚀的方法,将P型接触层和P型限制层刻蚀成脊型;步骤3:在P型接触层的上表面制作P型欧姆电极;步骤4:将砷化镓衬底减薄、清洗;步骤5:在砷化镓衬底的背面制作N型欧姆电极,形成激光器;步骤6:进行解理,在激光器的腔面镀膜,最后封装在管壳上,完成制作。本发明可以大大降低电子泄漏。 |
公开日期 | 2018-01-12 |
申请日期 | 2014-10-21 |
状态 | 授权 |
源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/49261] ![]() |
专题 | 半导体激光器专利数据库 |
作者单位 | 中国科学院半导体研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 李翔,赵德刚,江德生,等. 降低电子泄漏的砷化镓激光器的制作方法. CN104300366B. 2018-01-12. |
入库方式: OAI收割
来源:西安光学精密机械研究所
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