极小占空比半导体激光器峰值光功率的测试装置及方法
文献类型：专利
| 作者 | 刘磊 ; 牛继勇; 闫继送; 孙强; 韩强; 韩顺利; 吴寅初
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| 发表日期 | 2017-07-04 |
| 专利号 | CN105258794B |
| 著作权人 | 中电科仪器仪表有限公司 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 授权发明 |
| 其他题名 | 极小占空比半导体激光器峰值光功率的测试装置及方法 |
| 英文摘要 | 本发明公开了极小占空比半导体激光器峰值光功率的测试装置及方法，包括：高速光电转换和前置放大模块，将高速激光脉冲的光信号进行光电转换以及信号的前置放大从而产生高速电脉冲信号；电脉冲信号分别传输至高速脉冲光保持与采样模块及高速脉冲频率及展宽测试模块；高速脉冲光保持与采样模块，对高速电脉冲信号的保持与采样，产生积分保持信号，求出脉冲平均功率并传送至FPGA控制器；高速脉冲频率及展宽测试模块，实现对高速电脉冲信号的频率和脉宽的准确测量，并将测量数据传输至FPGA控制器。本发明能够实现对具有较快上升时间、极小占空比窄脉宽脉冲信号的峰值检测，并且能够实现仪器化。 |
| 公开日期 | 2017-07-04 |
| 申请日期 | 2015-11-04 |
| 状态 | 授权 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/49726]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 中电科仪器仪表有限公司 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘磊,牛继勇,闫继送,等. 极小占空比半导体激光器峰值光功率的测试装置及方法. CN105258794B. 2017-07-04. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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