一种激光二极管测试老化夹具
文献类型：专利
| 作者 | 仲莉; 于远斌; 李全宁; 罗泓; 王翠鸾; 李伟; 刘素平; 马骁宇 |
| 发表日期 | 2017-02-15 |
| 专利号 | CN104166020B |
| 著作权人 | 中国科学院半导体研究所 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 授权发明 |
| 其他题名 | 一种激光二极管测试老化夹具 |
| 英文摘要 | 本发明公开了一种适用于激光二极管的测试老化夹具，包括：水座；底座，其固定在所述水座上，一端固定激光二极管；另一端具有两个引线孔；绝缘块，固定在所述底座上表面的中部；负极引线片，其第一端与激光二极管的负极连接，第二端将激光二极管的负极引出；压块，为凹形柱体，置于激光二极管上表面，包括滚花控制杆和两定位杆；控制块，其上开设有对称分布在控制块两端的两个第一螺孔、中心部位的第二螺孔，以及位于两个第一螺孔两侧的两个通孔，所述两个第一螺孔用于固定支撑杆，所述第二螺孔用于旋拧滚花控制杆，所述两通孔用于固定定位杆；支撑杆，其一端固定在控制块上，另一端固定在底座上，用于支撑压块。 |
| 公开日期 | 2017-02-15 |
| 申请日期 | 2014-08-26 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/49738]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 中国科学院半导体研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 仲莉,于远斌,李全宁,等. 一种激光二极管测试老化夹具. CN104166020B. 2017-02-15. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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