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半导体激光器的制造方法

文献类型:专利

作者后藤修; 山田光志; 八重樫浩树; 堀川英明
发表日期2004-01-28
专利号CN1136636C
著作权人OKI半导体株式会社
国家中国
文献子类授权发明
其他题名半导体激光器的制造方法
英文摘要一种用高精度形成用于分割半导体器件10的标记的制造半导体器件的方法,其中,多个半导体器件10制备在一个半导体衬底16上,而作为标记的刻蚀槽31形成在半导体衬底16上的半导体器件区域的外部。
公开日期2004-01-28
申请日期1998-01-25
状态失效
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/50306]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位OKI半导体株式会社
推荐引用方式
GB/T 7714
后藤修,山田光志,八重樫浩树,等. 半导体激光器的制造方法. CN1136636C. 2004-01-28.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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