半導体能動素子測定用治具
文献类型：专利
| 作者 | 田遠 伸好 |
| 发表日期 | 1993-12-10 |
| 专利号 | JP1993326657A |
| 著作权人 | SUMITOMO ELECTRIC IND LTD |
| 国家 | 日本 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 半導体能動素子測定用治具 |
| 英文摘要 | 【目的】 半導体能動素子の動特性を正確に測定するための治具に関する。 【構成】 チップキャリア5にマウントされた半導体能動素子6の特性を測定するに際し、チップキャリア5をヒートシンク4に固定する治具であって、治具1-1は押え部1′と支持部1''がL字型に取付けられ、支持部1''には断面長円形のねじ穴3が傾斜して設けられ、押え部1′をチップキャリア5の上にのせ、支持部1''はヒートシンク4の側面にねじ止めして固定される治具である。 |
| 公开日期 | 1993-12-10 |
| 申请日期 | 1992-05-22 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/50770]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | SUMITOMO ELECTRIC IND LTD |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 田遠 伸好. 半導体能動素子測定用治具. JP1993326657A. 1993-12-10. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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