電子部品の特性測定装置
文献类型：专利
| 作者 | 岡田 均 |
| 发表日期 | 1998-04-28 |
| 专利号 | JP1998111338A |
| 著作权人 | ソニー株式会社 |
| 国家 | 日本 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 電子部品の特性測定装置 |
| 英文摘要 | 【課題】 一般的な環境の中で被測定電子部品のみを所定の温度に保ち、寿命試験を行える電子部品の特性測定装置を得ること。 【解決手段】 本発明の特性測定装置1は、レーザーダイオードLDが装着でき、良好な熱伝導性材で構成されている保持装置4と、この保持装置を加温し、レーザーダイオードLDに加える温度を制御するペルチェ素子3と、前記保持装置の温度を検出するサーミスタ5と、このサーミスタ5で検出された温度を基に生成された制御信号で前記ペルチェ素子3を制御する温度制御装置8と、加温された前記レーザーダイオードLDの出力データを処理するコンピュータとから構成されている。 |
| 公开日期 | 1998-04-28 |
| 申请日期 | 1996-10-07 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/51053]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | ソニー株式会社 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 岡田 均. 電子部品の特性測定装置. JP1998111338A. 1998-04-28. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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