中国科学院机构知识库网格
Chinese Academy of Sciences Institutional Repositories Grid
窒化物半導体基板の製造方法及び窒化物半導体素子の製造方法

文献类型:专利

作者小崎 徳也; 中村 修二
发表日期1998-09-25
专利号JP1998256662A
著作权人日亜化学工業株式会社
国家日本
文献子类发明申请
其他题名窒化物半導体基板の製造方法及び窒化物半導体素子の製造方法
英文摘要【目的】 結晶性の良い窒化物半導体よりなる基板の製造方法と、窒化物半導体基板を用いた素子の新規な製造方法を提供する。 【構成】 窒化物半導体と異なる材料よりなる厚さ1mm以上の基板の上に、窒化物半導体を100μm以上の膜厚で成長させた後、その基板を除去し、一方窒化物半導体と異なる材料よりなる基板の上に、窒化物半導体を100μm以上の膜厚で成長させる第1の工程と、第1の工程後、前記基板を除去することによって窒化物半導体基板を作製する第2の工程と、第2の工程後、表面の凹凸差が±1μm以下になるまで窒化物半導体基板表面を研磨する第3の工程と、第3の工程後、窒化物半導体基板の研磨面に新たな窒化物半導体を成長させる第4の工程とを備える。
公开日期1998-09-25
申请日期1997-03-11
状态失效
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/51088]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位日亜化学工業株式会社
推荐引用方式
GB/T 7714
小崎 徳也,中村 修二. 窒化物半導体基板の製造方法及び窒化物半導体素子の製造方法. JP1998256662A. 1998-09-25.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

浏览0
下载0
收藏0
其他版本

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。