半導体光増幅器の測定装置及び測定方法
文献类型：专利
| 作者 | 伊藤 敏夫; 曲 克明; 佐藤 里江子; 鈴木 安弘 |
| 发表日期 | 2003-01-10 |
| 专利号 | JP2003008125A |
| 著作权人 | NIPPON TELEGR & TELEPH CORP |
| 国家 | 日本 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 半導体光増幅器の測定装置及び測定方法 |
| 英文摘要 | 【課題】 半導体光増幅器の素子光増幅度や入力側結合効率や出力側結合効率を正確に求める。 【解決手段】 単一波長光源601からの単一波長光を半導体光増幅器602に入力したときの出力光強度をパワーメータ607により測定して、ファイバ間増幅度βを求め、また、広波長帯域光源602からの広波長帯域光を半導体光増幅器602に入力したときの出力光強度をパワーメータ607により測定して、ファイバ間増幅度γを得る。また、半導体光増幅器のゲインリップルVを求めておく。そして、(1)式,(2)式を用いて、素子光増幅度gを求める。 V={(1+Rg)2 /(1-Rg)2 } ···(1) γ/β=(1-R)2 /{1-(Rg)2 } ···(2) |
| 公开日期 | 2003-01-10 |
| 申请日期 | 2001-06-20 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/51309]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | NIPPON TELEGR & TELEPH CORP |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 伊藤 敏夫,曲 克明,佐藤 里江子,等. 半導体光増幅器の測定装置及び測定方法. JP2003008125A. 2003-01-10. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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