半導体レーザ素子および半導体レーザ素子の結合効率測定方法ならびに半導体レーザ素子の結合方法
文献类型：专利
| 作者 | 稲垣 祐一; 松下 俊雄; 山田 孝夫 |
| 发表日期 | 2004-08-05 |
| 专利号 | JP2004221577A |
| 著作权人 | 日亜化学工業株式会社 |
| 国家 | 日本 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 半導体レーザ素子および半導体レーザ素子の結合効率測定方法ならびに半導体レーザ素子の結合方法 |
| 英文摘要 | 【課題】 新規な半導体レーザ素子また、非ガウシアン分布である半導体レーザ素子の新規な結合効率を求める方法、さらには非ガウシアン分布である半導体レーザ素子とレーザ光を受光する受光部とを歩留良く結合させる方法を提供する。 【解決手段】 遠視野像測定装置などの比較的容易に半導体レーザ素子の特性が測定できる装置を用い、半導体レーザ素子から出されるレーザ光の光強度および、半導体レーザ素子と結合させる受光部における受光部を通過する光強度のそれぞれをドット状に算出し、結合効率を求める。 【選択図】 図5 |
| 公开日期 | 2004-08-05 |
| 申请日期 | 2004-01-05 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/51406]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 日亜化学工業株式会社 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 稲垣 祐一,松下 俊雄,山田 孝夫. 半導体レーザ素子および半導体レーザ素子の結合効率測定方法ならびに半導体レーザ素子の結合方法. JP2004221577A. 2004-08-05. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。