レーザ光源劣化判定装置及び方法
文献类型：专利
| 作者 | 金子 真二; 蒔田 真哉; 山堀 俊彦 |
| 发表日期 | 2006-01-26 |
| 专利号 | JP2006024599A |
| 著作权人 | ソニー株式会社 |
| 国家 | 日本 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | レーザ光源劣化判定装置及び方法 |
| 英文摘要 | 【課題】 レーザ光源の劣化判定を精度よく簡易に行う。 【解決手段】 レーザ光源の信号記録動作がバイアスAPCの定電流パルスコントロールによる制御であることに着目し、この信号記録モード時のレーザ光(消去動作用のピークパワー、クールパワー、及び記録動作用の目標パワー)をフロントフォトディテクタによって検出し、これを積分してA/D変換を行い、オフセットキャンセルやレベル正規化を経て、ピークパワーの絶対値を求め、この値と基準値を比較し、その誤差に基づいてレーザ光源の劣化判定を行う。また、この動作は、低倍速の記録モードで発光させて行うものとする。 【選択図】図1 |
| 公开日期 | 2006-01-26 |
| 申请日期 | 2004-07-06 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/51428]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | ソニー株式会社 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 金子 真二,蒔田 真哉,山堀 俊彦. レーザ光源劣化判定装置及び方法. JP2006024599A. 2006-01-26. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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