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半導体発光デバイスからのエレクトロルミネッセンスを観察する方法

文献类型:专利

作者市川 弘之; 佐々木 孝一; 川崎 勇士
发表日期2008-03-21
专利号JP2008066469A
著作权人SUMITOMO ELECTRIC IND LTD
国家日本
文献子类发明申请
其他题名半導体発光デバイスからのエレクトロルミネッセンスを観察する方法
英文摘要【課題】実際の製品の動作を実質的に再現することが可能な、半導体光素子からのエレクトロルミネッセンス(EL)を観察する方法を提供する。 【解決手段】半導体光素子13を実装部材から取り外した後に、半導体光素子13の側面を研磨して研磨面13dを形成する。研磨された半導体光素子13を別の搭載部材33に取り付ける。研磨された半導体光素子13を搭載部材33に取り付けた後に、研磨された半導体光素子13のためのワイヤボンディングを行う。電極21と電極23との間に電源35を接続して半導体光素子13に電流を印加して、この電流の印加に応答して半導体光素子13により発生されたエレクトロルミネッセンスIELを研磨面13dを介して観測する。EL観測は、基準面SREFから傾斜した角度に出射するELをビジコンを用いて得る。 【選択図】図3
公开日期2008-03-21
申请日期2006-09-06
状态失效
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/51543]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位SUMITOMO ELECTRIC IND LTD
推荐引用方式
GB/T 7714
市川 弘之,佐々木 孝一,川崎 勇士. 半導体発光デバイスからのエレクトロルミネッセンスを観察する方法. JP2008066469A. 2008-03-21.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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