半導体発光デバイスからのエレクトロルミネッセンスを観察する方法
文献类型:专利
作者 | 市川 弘之; 佐々木 孝一; 川崎 勇士 |
发表日期 | 2008-03-21 |
专利号 | JP2008066469A |
著作权人 | SUMITOMO ELECTRIC IND LTD |
国家 | 日本 |
文献子类 | 发明申请 |
其他题名 | 半導体発光デバイスからのエレクトロルミネッセンスを観察する方法 |
英文摘要 | 【課題】実際の製品の動作を実質的に再現することが可能な、半導体光素子からのエレクトロルミネッセンス(EL)を観察する方法を提供する。 【解決手段】半導体光素子13を実装部材から取り外した後に、半導体光素子13の側面を研磨して研磨面13dを形成する。研磨された半導体光素子13を別の搭載部材33に取り付ける。研磨された半導体光素子13を搭載部材33に取り付けた後に、研磨された半導体光素子13のためのワイヤボンディングを行う。電極21と電極23との間に電源35を接続して半導体光素子13に電流を印加して、この電流の印加に応答して半導体光素子13により発生されたエレクトロルミネッセンスIELを研磨面13dを介して観測する。EL観測は、基準面SREFから傾斜した角度に出射するELをビジコンを用いて得る。 【選択図】図3 |
公开日期 | 2008-03-21 |
申请日期 | 2006-09-06 |
状态 | 失效 |
源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/51543] ![]() |
专题 | 半导体激光器专利数据库 |
作者单位 | SUMITOMO ELECTRIC IND LTD |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 市川 弘之,佐々木 孝一,川崎 勇士. 半導体発光デバイスからのエレクトロルミネッセンスを観察する方法. JP2008066469A. 2008-03-21. |
入库方式: OAI收割
来源:西安光学精密机械研究所
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