バーンイン装置、バーンイン試験方法および接触状態検知方法
文献类型：专利
| 作者 | 上山 明紀 |
| 发表日期 | 2008-08-28 |
| 专利号 | JP2008196920A |
| 著作权人 | SHARP CORP |
| 国家 | 日本 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | バーンイン装置、バーンイン試験方法および接触状態検知方法 |
| 英文摘要 | 【課題】 半導体レーザ装置100の温度に対する温度制御の応答速度が速いために温度制御が正確で試験時間が短く、さらに低コスト化に優れたバーンイン装置およびバーンイン試験方法を提供する。 【解決手段】 恒温プレート202を含むプレート部に半導体レーザ装置100が設置され、第1温度センサ208が恒温プレート202の温度を検出し、温度制御器209およびメイン制御ユニット210が第1温度センサ208によって検出された温度に基づいて恒温プレート202の温度を制御しつつ、フォトダイオード211およびAPC回路212が半導体レーザ装置100の特性を測定し、メイン制御ユニット210が得られた測定結果に基づいて半導体100の良否を判定するようにする。 【選択図】図2 |
| 公开日期 | 2008-08-28 |
| 申请日期 | 2007-02-09 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/51564]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | SHARP CORP |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 上山 明紀. バーンイン装置、バーンイン試験方法および接触状態検知方法. JP2008196920A. 2008-08-28. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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