試験用治具、検査装置、載置装置および試験装置
文献类型：专利
| 作者 | 上山 明紀 |
| 发表日期 | 2016-08-18 |
| 专利号 | JPWO2014041905A1 |
| 著作权人 | シャープ株式会社 |
| 国家 | 日本 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 試験用治具、検査装置、載置装置および試験装置 |
| 英文摘要 | 維持管理が容易な治具を用い、不良判定時の損失が最小限な試験を行うことができる試験装置が提供される。サブマウント(3)に接合された半導体チップ(2)である被試験体(1)に対する試験装置(20)に着脱自在に備えられる試験用治具(10)において、パレット(11)上に被試験体(1)が載置され、パレット(11)にコンタクトブロック(12)が着脱自在に装着され、コンタクトブロック(12)の接触部材が、被試験体(1)と電気的に接続される。試験装置(20)において、被試験体(1)を保持した試験用治具(10)の温度環境が制御されつつ、試験用治具(10)のコンタクトブロック(12)を介して、試験用治具(10)に保持される被試験体(1)に被試験体(1)を駆動するための電力が供給され、電力供給に応答して駆動する被試験体(1)の駆動結果が測定される。 |
| 公开日期 | 2016-08-18 |
| 申请日期 | 2013-07-26 |
| 状态 | 授权 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/51706]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | シャープ株式会社 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 上山 明紀. 試験用治具、検査装置、載置装置および試験装置. JPWO2014041905A1. 2016-08-18. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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