一种激光光场互相干系数测试装置
文献类型：专利
| 作者 | 曹银花; 张晓宁; 邱运涛; 秦文斌 ; 刘友强; 王智勇
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| 发表日期 | 2019-03-08 |
| 专利号 | CN109443532A |
| 著作权人 | 北京工业大学 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 一种激光光场互相干系数测试装置 |
| 英文摘要 | 本发明公开了一种激光光场互相干系数测试装置，半导体激光器出射的光束经分束镜分成光束Ⅰ和光束Ⅱ，光束Ⅰ和光束Ⅱ经过合束镜后，光束Ⅰ反射出的部分光与光束Ⅱ透射出的部分光产生干涉叠加，通过调节第一全反射镜或第二全反射镜的位置来实现对激光光场不同坐标的叠加，从而获得不同的叠加光场信息；第一光强探测器用于记录光束Ⅰ的光强I1，第三光强探测器用于记录光束Ⅱ的光强I2，第二光强探测器用于记录光束Ⅰ反射出的部分光强I1′与光束Ⅱ透射出的部分光强I2′干涉叠加后的总光强I，根据计算激光光场的互相干系数κ。本发明可计算出各个坐标组合下的相干系数，对改进半导体激光器的设计、提高光束质量有积极的影响。 |
| 公开日期 | 2019-03-08 |
| 申请日期 | 2018-10-23 |
| 状态 | 申请中 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/55053]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 北京工业大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 曹银花,张晓宁,邱运涛,等. 一种激光光场互相干系数测试装置. CN109443532A. 2019-03-08. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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