一种盖革模式三维激光成像焦平面阵列探测器成像性能测试系统
文献类型：专利
| 作者 | 孔繁林; 柯尊贵; 周小燕; 钱煜; 袁鎏; 郝昕; 邓世杰; 梁晨宇; 袁菲; 黄海华 |
| 发表日期 | 2019-05-03 |
| 专利号 | CN109709533A |
| 著作权人 | 西南技术物理研究所 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 一种盖革模式三维激光成像焦平面阵列探测器成像性能测试系统 |
| 英文摘要 | 本发明属于光电探测技术领域，具体涉及一种盖革模式三维激光成像焦平面阵列探测器成像性能测试系统。该系统采用窄脉冲半导体激光器光源，相比于外场成像试验用的大功率固体激光器，其体积小，功率低，成本低，输出光功率可调，是实现目标极微弱光照射的非常理想的激光光源；采用暗箱隔绝箱体外环境的杂散光，使进行单光子成像探测的准确性得到保证；通过调节窄脉冲半导体激光器的激光输出延迟和调节探测器与标靶距离，可实现室内模拟远距离目标的成像探测；通过调节错位标靶中两标靶之间的距离，可实现探测器的极限距离分辨率成像探测。本发明无需外场，在室内即可完成盖革模式三维激光成像焦平面阵列探测器成像性能的测试。 |
| 公开日期 | 2019-05-03 |
| 申请日期 | 2018-12-24 |
| 状态 | 申请中 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/55215]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 西南技术物理研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 孔繁林,柯尊贵,周小燕,等. 一种盖革模式三维激光成像焦平面阵列探测器成像性能测试系统. CN109709533A. 2019-05-03. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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