一种新型原子磁强计装置及检测方法
文献类型：专利
| 作者 | 李松松; 张奕; 田原; 陈杰华; 顾思洪 |
| 发表日期 | 2019-06-04 |
| 专利号 | CN109839606A |
| 著作权人 | 中国科学院武汉物理与数学研究所 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 一种新型原子磁强计装置及检测方法 |
| 英文摘要 | 本发明公开了一种新型原子磁强计装置，包括半导体激光器，半导体激光器的输出的初始线偏光依次经过光斑整形器、隔离器、第一半波片后获得调节偏振面后的光束，调节偏振面后的光束经过第一偏振分光棱镜后分为稳频光束和待调制光束，稳频光束输入到稳频环路，待调制光束依次经过电光调制器、正交偏振仪、原子气室后由第三偏振分光棱镜分为第一探测光束和第二探测光束，第一探测光束和第二探测光束分别由第一探测器和第二探测器探测，本发明还公开了一种新型原子磁强的检测方法。本发明在精简了磁强计的结构，减小了磁强计的体积与成本的基础上提高了磁强计的灵敏度。 |
| 公开日期 | 2019-06-04 |
| 申请日期 | 2019-03-13 |
| 状态 | 申请中 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/55272]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 中国科学院武汉物理与数学研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李松松,张奕,田原,等. 一种新型原子磁强计装置及检测方法. CN109839606A. 2019-06-04. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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