一种基于电流波数扫描的透镜三维轮廓测量装置及方法
文献类型：专利
| 作者 | 周延周; 古宇达; 李谦谦; 全绍琛; 蔡瑞涵 |
| 发表日期 | 2019-07-09 |
| 专利号 | CN109990729A |
| 著作权人 | 广东工业大学 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 一种基于电流波数扫描的透镜三维轮廓测量装置及方法 |
| 英文摘要 | 本发明公开了一种基于电流波数扫描的透镜三维轮廓测量装置及方法，测量装置包括发射相关光的半导体激光器、将相关光分为两部分的分光棱镜、光楔、捕捉反射光干涉光谱的CCD相机、处理图像信息的计算机、调节半导体激光器工作温度及电流的激光控制器、以及提高测量精度的双远心镜头。测量时，工作电流变化10mA左右即可得到透镜的高精度轮廓，且和透镜表面没有任何机械接触，避免了透镜表面的损伤。在数据处理过程中使用干涉信号相关谱分解及复数线性最小二乘法算法，对干涉信号可以精确地盲分离出各个表面的干涉相位，避免了傅里叶变换窗函数卷积的模糊效应，提高了测量的精度。本发明还具有结构简单、操作方便、容易实施的优点。 |
| 公开日期 | 2019-07-09 |
| 申请日期 | 2019-01-15 |
| 状态 | 申请中 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/55367]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 广东工业大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 周延周,古宇达,李谦谦,等. 一种基于电流波数扫描的透镜三维轮廓测量装置及方法. CN109990729A. 2019-07-09. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。