电流-温控半导体激光器的光学干涉光源装置及其构成的测量系统
文献类型:专利
作者 | 周延周; 吴路运; 谢侃; 蔡梓超; 谢胜利 |
发表日期 | 2019-07-12 |
专利号 | CN110011178A |
著作权人 | 广东工业大学 |
国家 | 中国 |
文献子类 | 发明申请 |
其他题名 | 电流-温控半导体激光器的光学干涉光源装置及其构成的测量系统 |
英文摘要 | 本发明公开了一种电流‑温控半导体激光器的光学干涉光源装置,包括散热板、环形半导体制冷片、半导体激光器、PCB板、热传感器和固定板,PCB板的两侧面的中心分别设有第一圆形开窗铜区和第二圆形铜区,第一圆形开窗铜区通过过孔与第二圆形铜区相接触;半导体激光器的外壳下端通过导热硅脂与第一圆形开窗铜区连接,环形半导体制冷片的制冷面通过导热硅脂与第一圆形开窗铜区连接;环形半导体制冷片的制热面通过导热硅脂与散热板连接;热传感器设于所述第一圆形开窗铜区上而对第一圆形开窗铜区的温度进行检测。本发明还公开了一种测量系统。本发明具有结构简单、导热性好、温控精度高和激光器输出波长稳定有益效果。 |
公开日期 | 2019-07-12 |
申请日期 | 2019-03-28 |
状态 | 申请中 |
源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/55373] ![]() |
专题 | 半导体激光器专利数据库 |
作者单位 | 广东工业大学 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 周延周,吴路运,谢侃,等. 电流-温控半导体激光器的光学干涉光源装置及其构成的测量系统. CN110011178A. 2019-07-12. |
入库方式: OAI收割
来源:西安光学精密机械研究所
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