特性測定装置
文献类型：专利
| 作者 | 清水 研一 |
| 发表日期 | 2002-02-15 |
| 专利号 | JP2002048639A |
| 著作权人 | RICOH CO LTD |
| 国家 | 日本 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 特性測定装置 |
| 英文摘要 | 【課題】 半導体レーザユニットからのレーザ光の光強度および光強度分布を測定することができる特性測定装置を提供する。 【解決手段】 本発明の特性測定装置は、半導体レーザ9とこの半導体レーザ9からのレーザ光を収束するレンズ10およびこのレンズ10からのレーザ光を整形するアパーチャ12を有する半導体レーザユニット7からのレーザ光14の特性を測定する特性測定装置において、半導体レーザユニット7からのレーザ光14の光強度を測定する第1の受光素子1と、半導体レーザユニット7からのレーザ光14の光強度分布を測定する第2の受光素子2を備えている。第1および第2の受光素子1、2は、アパーチャ12の開口部12aの面積より大きい受光面積を有するように構成されている。 |
| 公开日期 | 2002-02-15 |
| 申请日期 | 2000-07-31 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/56340]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | RICOH CO LTD |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 清水 研一. 特性測定装置. JP2002048639A. 2002-02-15. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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