半導体レーザ装置の検査装置における調整方法
文献类型：专利
| 作者 | 早水 勲; 立柳 昌哉 |
| 发表日期 | 2005-10-27 |
| 专利号 | JP2005303187A |
| 著作权人 | 松下電器産業株式会社 |
| 国家 | 日本 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 半導体レーザ装置の検査装置における調整方法 |
| 英文摘要 | 【課題】半導体レーザ装置の検査装置の光学ユニットの調整において、高精度かつ短期間で調整することを可能にする。 【解決手段】調整用治具6に、位置決め装置2と光強度を測定するビームプロファイラ7を設置し、半導体レーザ装置1を位置決め装置2で固定する。半導体レーザ装置1の半導体レーザを発光させ、半導体レーザ装置1から出射した直接のレーザ光と、コリメートレンズ3にて整形された平行光11の重心が一致するように、コリメートレンズ3のX-Y位置の調整を行う。位置決め装置2とコリメートレンズ3の傾きについては、レーザ光の強度分布特性が対称となるように調整する。 【選択図】図3 |
| 公开日期 | 2005-10-27 |
| 申请日期 | 2004-04-15 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/56372]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 松下電器産業株式会社 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 早水 勲,立柳 昌哉. 半導体レーザ装置の検査装置における調整方法. JP2005303187A. 2005-10-27. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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