半导体激光器的检测装置和方法及相干光源检测方法
文献类型：专利
| 作者 | 北冈康夫; 横山敏史; 山本和久 |
| 发表日期 | 2004-03-17 |
| 专利号 | CN1482437A |
| 著作权人 | 松下电器产业株式会社 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 半导体激光器的检测装置和方法及相干光源检测方法 |
| 英文摘要 | 本发明的课题是提供一种简单而高速地评价波长可变半导体激光器的波长可变特性的方法。所用检测装置是由对具有有源区、相位调整区和DBR区的波长可变DBR半导体激光器1供给电流的电源；检测从波长可变DBR半导体激光器1射出的激光的输出强度的光接收元件3；以及可插入从波长可变DBR半导体激光器1至光接收元件3的光路上的透射型波长选择元件6构成的检测装置。在从波长可变DBR半导体激光器1至光接收元件3的光路上插入了透射型波长选择元件6的状态下，对于向有源区供给的规定的有源电流，改变对相位调整区供给的相位电流和对DBR区供给的DBR电流的至少一方，用光接收元件3检测透过透射型波长选择元件6后的激光的输出强度。 |
| 公开日期 | 2004-03-17 |
| 申请日期 | 2002-09-10 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/56525]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 松下电器产业株式会社 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 北冈康夫,横山敏史,山本和久. 半导体激光器的检测装置和方法及相干光源检测方法. CN1482437A. 2004-03-17. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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