半导体激光器老化筛选设备和筛选方法
文献类型：专利
| 作者 | 马军; 唐宽平; 何德毅; 邱海波; 陈良惠; 孙睦光; 张浩先 |
| 发表日期 | 2003-01-08 |
| 专利号 | CN1389963A |
| 著作权人 | 惠州市中科光电有限公司 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 半导体激光器老化筛选设备和筛选方法 |
| 英文摘要 | 一种半导体激光器老化筛选设备和基于该设备的老化筛选方法,在设备的控制待测器件发光的功率控制电路中采用数字电位器,并通过单片机对数字电位器的自动调控,然后将结果输入单片机和计算机,实现了半导体激光器件老化筛选过程的自动化,为工业化大批量生产后的筛选分级提供了基础。 |
| 公开日期 | 2003-01-08 |
| 申请日期 | 2001-10-26 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/56541]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 惠州市中科光电有限公司 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 马军,唐宽平,何德毅,等. 半导体激光器老化筛选设备和筛选方法. CN1389963A. 2003-01-08. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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