一种半导体激光器芯片的芯片级眼图测试方法和测试装置
文献类型：专利
| 作者 | 钟行; 岳爱文; 刘应军; 胡艳; 李晶; 曾笔鉴 |
| 发表日期 | 2017-12-19 |
| 专利号 | CN107493131A |
| 著作权人 | 武汉电信器件有限公司 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 一种半导体激光器芯片的芯片级眼图测试方法和测试装置 |
| 英文摘要 | 本发明涉及激光器测试技术领域，提供了一种半导体激光器芯片的芯片级眼图测试方法和测试装置。测试装置中误码仪的输出端连接射频放大器，射频放大器的输出端在连接可调衰减器后串联到偏置器；偏置器连接射频探针，用于在带真空泵的激光芯片固定台固定好激光器芯片后，与激光器芯片的信号电极接触；光探针与固定在带真空泵的激光芯片固定台上的激光器的出光口耦合，光探针的另一端连接光分路器；光分路器的两路分光输出端口分别连接光功率计和示波器。本发明采用的外置射频放大器与传统测试里使用的集成到IC中的射频放大器相比，可以重复使用，且增益可调范围更广，可以满足多种不同芯片的测试需求。 |
| 公开日期 | 2017-12-19 |
| 申请日期 | 2017-07-17 |
| 状态 | 申请中 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/56554]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 武汉电信器件有限公司 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 钟行,岳爱文,刘应军,等. 一种半导体激光器芯片的芯片级眼图测试方法和测试装置. CN107493131A. 2017-12-19. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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