面発光型半導体レーザ装置及びその故障検知方法
文献类型：专利
| 作者 | 大西 大; 大田 明宏 |
| 发表日期 | 2018-02-08 |
| 专利号 | JP2018022739A |
| 著作权人 | ローム株式会社 |
| 国家 | 日本 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 面発光型半導体レーザ装置及びその故障検知方法 |
| 英文摘要 | 【課題】VCSELの故障をいち早く検知することができる面発光型半導体レーザ装置及びその故障検知方法を提供する。 【解決手段】実施の形態に係る面発光型半導体レーザ装置は、VCSEL(面発光レーザダイオード)と、VCSELの周囲に配置された複数のフォトダイオードとを備える。このような構成によれば、レーザ光hvの横漏れを8個のフォトダイオードPD1〜PD8の各々により受光することができるため、その各々の受光レベルのばらつきに基づいてVCSELの故障を検知することが可能である。 【選択図】図2 |
| 公开日期 | 2018-02-08 |
| 申请日期 | 2016-08-02 |
| 状态 | 申请中 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/56626]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | ローム株式会社 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 大西 大,大田 明宏. 面発光型半導体レーザ装置及びその故障検知方法. JP2018022739A. 2018-02-08. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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